分光镜分析和控制
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摘要

一种用于分光镜分析的装置,其包括具有数字输出信号的可调谐二极管激光器分光计和用于接收分光计的数字输出信号的数字计算机,该数字计算机利用多元回归算法程序处理数字输出信号。另外,公开一种使用该装置的分光镜分析法。最后,公开一种用于控制乙烯裂化氢化器的方法。

基本信息
专利标题 :
分光镜分析和控制
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN101156058A
申请号 :
CN200680010432.4
公开(公告)日 :
2008-04-02
申请日 :
2006-03-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
J·D·泰特C·H·多姆克C·J·里德L·李M·B·西肖尔茨C·W·利普A·E·韦伯
申请人 :
陶氏化学公司
申请人地址 :
美国密歇根州
代理机构 :
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 :
程伟
优先权 :
CN200680010432.4
主分类号 :
G01N21/39
IPC分类号 :
G01N21/39  G01N21/35  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/39
利用可调谐的激光器
法律状态
2011-08-03 :
授权
2008-06-04 :
实质审查的生效
2008-04-02 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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