用于检测被包围在介质中的物体的方法以及用于执行该方法的检...
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摘要
本发明涉及一种用于检测被包围在介质(10)里面的物体(12)的方法，其中测得与被包围物体对应的测量信号(UM)，由它产生第二信号(S)，它以分段的方式再现所测得的测量信号(UM)的信号强度，通过对第二信号(S)的各个段单元附设测量信号(UM)的信号强度间隔。按照本发明建议，根据检测的测量信号(UM)的信号强度改变第二信号(S)的各个段单元的阈值(USn)。此外本发明还涉及一个用于执行按照本发明方法的检测仪、尤其是一个便携式定位仪。
基本信息
专利标题 ：
用于检测被包围在介质中的物体的方法以及用于执行该方法的检测仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101156084A
申请号 ：
CN200680011432.6
公开（公告）日 ：
2008-04-02
申请日 ：
2006-03-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
U·斯库尔特蒂－贝茨B·哈塞K·伦茨R·卡拉普夫
申请人 ：
罗伯特·博世有限公司
申请人地址 ：
德国斯图加特
代理机构 ：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人 ：
曹若
优先权 ：
CN200680011432.6
主分类号 ：
G01V3/08
IPC分类号 ：
G01V3/08
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01V
地球物理；重力测量；物质或物体的探测；示踪物
G01V3/00
电或磁的勘探或探测；；地磁场特性的测量；例如，磁偏角或磁偏差
G01V3/08
通过被测目标或地质结构或通过探测装置产生或改变磁场或电场进行操作的
法律状态
2011-07-06 ：
授权
2008-05-28 ：
实质审查的生效
2008-04-02 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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