具有流量检验装置的颗粒采样系统
授权
摘要
本发明公开了一种颗粒采样系统(18)。该颗粒采样系统可包括排气采样单元(24)和向该排气采样单元供应稀释空气的稀释流组件(26)。所述颗粒采样系统也可包括接收稀释空气和排气的总流组件(28)。所述颗粒采样系统还可包括构造成控制所述稀释流组件和总流组件中的流量的流量调节组件(70，72，76，80)。所述颗粒采样系统还可包括构造成测量所述流量调节组件的精度的流量检验组件(32)。
基本信息
专利标题 ：
具有流量检验装置的颗粒采样系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN101166963A
申请号 ：
CN200680014037.3
公开（公告）日 ：
2008-04-23
申请日 ：
2006-03-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
R·R·小格雷兹J·K·兰德尔
申请人 ：
卡特彼勒公司
申请人地址 ：
美国伊利诺伊州
代理机构 ：
北京市中咨律师事务所
代理人 ：
吴鹏
优先权 ：
CN200680014037.3
主分类号 ：
G01M15/10
IPC分类号 ：
G01M15/10 F01N11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M9/06
•专用于空气动力学试验的测量装置
G01M9/08
空气动力学模型
G01M15/10
通过监测排气
法律状态
2009-12-30 ：
授权
2008-06-25 ：
实质审查的生效
2008-04-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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