衰减全反射测试装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种衰减全反射测试装置,其特征在于:一底座通过一支撑柱固定有一用于放置待测样品的样品承载板,支撑柱下部形成一梯形台,梯形台上固定有反射镜;在承载板上一侧固定有一支撑臂,支撑臂枢接一旋转臂一端,而旋转臂的另一端固定有一压力定位装置对准样品承载板中央的玻璃板。本实用新型的装置结构简单、体积小巧,具有一定的使用灵活性;且保证样品与玻璃板的紧密接触,也可避免玻璃板受到过大的压力而破裂,以确保测量精度。

基本信息
专利标题 :
衰减全反射测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720007157.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-05-22
授权号 :
CN201041545Y
授权日 :
2008-03-26
发明人 :
陈晓汀
申请人 :
陈晓汀
申请人地址 :
361005福建省厦门市思明区厦大西村15号401室
代理机构 :
厦门市新华专利商标代理有限公司
代理人 :
渠述华
优先权 :
CN200720007157.2
主分类号 :
G01N21/17
IPC分类号 :
G01N21/17  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2013-07-10 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101488123215
IPC(主分类) : G01N 21/17
专利号 : ZL2007200071572
申请日 : 20070522
授权公告日 : 20080326
终止日期 : 20120522
2008-03-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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