单光子计数成像仪
避免重复授权放弃专利权
摘要
一种单光子计数成像探测装置,其高压电源通过高压引线与微光像增强管连接;显示器、图像处理装置、打印机分别与计算机连接,微光像增强管与前置放大器之间还设置有阳极收集器,阳极收集器包括衬底镀在衬底上的电极以及信号引线,阳极通过信号引线与前置放大器连接;微光像增强管包括沿光路依次设置的光电阴极以及与光电阴极连接的微通道板。本实用新型既可以用作到达时刻的时间标记读出,也可以将一个周期内积分的总图像一并读出,实现极微弱目标单光子计数及二维成像探测,不仅具有单光子计数功能,而且能够对极微弱发光目标进行二维成像的特点。本实用新型具有大面阵、高灵敏度、暗计数低、分辨率高、成像线性度好,实时测量处理的优点。
基本信息
专利标题 :
单光子计数成像仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720032701.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-09-11
授权号 :
CN201262572Y
授权日 :
2009-06-24
发明人 :
朱香平赵宝升缪振华刘永安邹玮张兴华
申请人 :
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 :
710119陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 :
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 :
徐 平
优先权 :
CN200720032701.9
主分类号 :
G01J1/42
IPC分类号 :
G01J1/42 G01J1/44 G01T1/17 G01T1/18 H04N5/335
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2011-12-07 :
避免重复授权放弃专利权
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101222110749
IPC(主分类) : G01J 1/42
专利号 : ZL2007200327019
申请日 : 20070911
授权公告日 : 20090624
放弃生效日 : 20070911
号牌文件序号 : 101222110749
IPC(主分类) : G01J 1/42
专利号 : ZL2007200327019
申请日 : 20070911
授权公告日 : 20090624
放弃生效日 : 20070911
2009-06-24 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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