应用于多种不同线对数电缆的屏蔽导线槽盘及其测试装置
专利权的终止
摘要
应用于多种不同线对数电缆的屏蔽导线槽盘及其测试装置,所述屏蔽导线槽盘上设有多个屏蔽导线槽,所述多个屏蔽导线槽的延长线有多个交点,每一交点及对应的屏蔽导线槽构成一个测试子单元。所述屏蔽导线槽共有24个,每相邻的4个屏蔽导线槽的延长线有一交点。一种应用于多种不同线对数电缆的测试装置,包括工作板和至少一个屏蔽导线槽盘,所述屏蔽导线槽盘可拆卸的固定于所述工作板上,所述屏蔽导线槽盘上设有多个屏蔽导线槽,所述多个屏蔽导线槽的延长线有多个交点,每一交点及对应的屏蔽导线槽构成一个测试子单元。本实用新型实现了测试不同线对电缆时采用不同的屏蔽导线槽对测试电缆的不同线对进行屏蔽。
基本信息
专利标题 :
应用于多种不同线对数电缆的屏蔽导线槽盘及其测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720074549.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-09-11
授权号 :
CN201096845Y
授权日 :
2008-08-06
发明人 :
江斌沈奶连尹莹
申请人 :
上海电缆研究所;上海赛克力光电缆有限责任公司
申请人地址 :
200093上海市杨浦区军工路1000号
代理机构 :
上海光华专利事务所
代理人 :
余明伟
优先权 :
CN200720074549.0
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00 G01R27/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2017-10-31 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20070911
授权公告日 : 20080806
申请日 : 20070911
授权公告日 : 20080806
2008-08-06 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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