紫外线强度测试传感器装置
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
摘要
本实用新型涉及提供一种紫外线强度测试传感器装置，包括在印制板上安装两个光敏电阻，其中一个光敏电阻受光面覆盖钠玻璃片，另一个光敏电阻受光面涂覆荧光粉。当紫外线照射到装置上时，覆盖钠玻璃片的光敏电阻产生的电信号是与紫外线光一同照射的可见光信号，涂覆荧光粉的光敏电阻产生的电信号是紫外线光和可见光总和的信号。将这两个信号相减就达到了测试紫外线强度的目的。
基本信息
专利标题 ：
紫外线强度测试传感器装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720082257.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-12-05
授权号 ：
CN201110786Y
授权日 ：
2008-09-03
发明人 ：
谢弗伊
申请人 ：
四川西部高新产业开发有限公司
申请人地址 ：
610041四川省成都市高新区高朋大道5号B座206
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN200720082257.1
主分类号 ：
G01J1/42
IPC分类号 ：
G01J1/42 G01J1/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法，例如照相的曝光表
G01J1/42
采用电辐射检测器
法律状态
2010-02-10 ：
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2008-09-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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