超快恢复二极管芯片
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种超快恢复二极管芯片,包括硅片,其特征在于所述的硅片上、下表面均设有与硅片热膨胀系相似材料的衬片。本实用新型的超快恢复二极管芯片,具有以下优点:1.增强芯片的机械强度,保护芯片,使芯片不易破碎。2.减小芯片在后道封装过程中的应力,所用衬片与硅片有相似的热膨胀系数,能有效缓冲芯片与下面所焊的底板间的应力。3.增加衬片能有效均匀分布电流,使工作电流较均匀地通过整个芯片的横截面,提高芯片的性能。4.提高工作电流,减小反向恢复时间。所述上、下衬片采用金属化的陶瓷片或氧化铍片。所述硅片与上、下衬片采用铅锡合金熔接。所述硅片的周边也采用铅锡合金熔接封闭。

基本信息
专利标题 :
超快恢复二极管芯片
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720113776.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-08-29
授权号 :
CN201117662Y
授权日 :
2008-09-17
发明人 :
项卫光徐伟
申请人 :
浙江正邦电力电子有限公司
申请人地址 :
321400浙江省缙云县五东工业园区
代理机构 :
浙江杭州金通专利事务所有限公司
代理人 :
沈孝敬
优先权 :
CN200720113776.X
主分类号 :
H01L29/861
IPC分类号 :
H01L29/861  H01L23/00  
法律状态
2010-09-22 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101005911468
IPC(主分类) : H01L 29/861
专利号 : ZL200720113776X
申请日 : 20070829
授权公告日 : 20080917
2008-09-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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