本实用新型涉及一种能实现对多个芯片同时进行联合定位检验的芯片送样装置及使用该送样装置的芯片阅读装置。该芯片送样装置包括进样盘，所述进样盘上安装有承载芯片的盛样盘，所述盛样盘上安装有至少两个检测位；该芯片阅读装置通过使用上述芯片送样装置使得芯片阅读装置在对芯片进行检测和分析过程中实现了对多个芯片的同时、联合检测，而且阅读装置在检测芯片的过程中多个检测位进位准确，使得芯片检测装置在保障检测准确性的基础上提高了芯片检测的效率。