一种电路板测试治具，包括一顶部设有多个探针装置的底座、一位于底座上方的上盖、以及位于底座及上盖两侧的一平行连杆机构与一支撑机构，其中，该平行连杆机构进一步包括分别枢设于上盖及底座侧边且互为平行的一第一连动杆及一第二连动杆，使上盖保持水平状往后上方拉开或盖合于底座上，当上盖往上拉开时，藉由一连动杆支架挡止于第一连动杆后侧，且藉由支撑机构的一压缸撑持该第一连动杆，使其不至于任意落下，以方便操作者将电路板置于底座顶面检测及取出，又由于本实用新型的上盖可以保持水平落于电路板上，因此可以使各探针装置平均受力，避免局部因为受力较大而使其压缩弹簧弹性疲乏。