尘埃粒子计数器光学传感器
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种采用保护气套采样气路的尘埃粒子计数器光学传感器。包括半导体激光器,非球面透镜,球面反射镜,光陷阱及采样气路,采样气路由进气管和出气管组成,进气管由两部分组成,其中内管内为采样气路,外管内为洁净气流气路,采样气路中的进气管和出气管相对于光敏区对称分布。本实用新型由于保护气套限制了采样气流在光敏区的扩散,减少了粒子出现在弱光区的概率,减少了漏计数的发生,实际测试中小信号的数量大大减少,极大的提高了传感器的计数效率,对于0.38μm的标准粒子计数效率接近100%,粒子的分辨率也有了很大的提高,对于0.38μm、0.54μm标准粒子的分辨率达85%以上。

基本信息
专利标题 :
尘埃粒子计数器光学传感器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720131956.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-12-26
授权号 :
CN201130141Y
授权日 :
2008-10-08
发明人 :
卞保民彭刚王春勇杨娟
申请人 :
南京理工大学
申请人地址 :
210094江苏省南京市孝陵卫200号
代理机构 :
南京理工大学专利中心
代理人 :
朱显国
优先权 :
CN200720131956.0
主分类号 :
G01N15/06
IPC分类号 :
G01N15/06  G01N15/14  G01N21/51  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
G01N15/06
测试悬浮颗粒的浓度
法律状态
2014-02-26 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止终止日期 : 20121226
号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101573321847
IPC(主分类) : G01N 15/06
专利号 : ZL2007201319560
申请日 : 20071226
授权公告日 : 20081008
2008-10-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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