单镜头颗粒判定仪的反光取像装置
专利权的终止
摘要

本实用新型提供了一种单镜头颗粒判定仪的反光取像装置,该装置包括水平放置的透明物料板和一个固定设置的摄像装置,其特征在于,在所述摄像装置的摄像口与物料板正面之间设置有将被测颗粒正面的反射光传递给摄像口的正面反射光路,在摄像口与物料板反面之间设置有将被测颗粒反面的反射光传递给摄像口的反面反射光路,在该两反射光路上之间具有对两反射光路进行切换的切换装置。本实用新型能够利用反光光路而采用一个镜头来从正面和反面采集被测颗粒的图像信息,从而提高颗粒判定仪的判定准确度,降低设备的制造成本。

基本信息
专利标题 :
单镜头颗粒判定仪的反光取像装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720170056.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-08-06
授权号 :
CN201075000Y
授权日 :
2008-06-18
发明人 :
郝伟
申请人 :
北京东孚久恒仪器技术有限公司
申请人地址 :
100037北京市西城区百万庄大街11号粮科大厦
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
赵丽丽
优先权 :
CN200720170056.7
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/02  G01B11/24  G01J3/46  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2017-09-26 :
专利权的终止
专利权有效期届满号牌文件类型代码 : 1611
号牌文件序号 : 101749620660
IPC(主分类) : G01B 11/00
专利号 : ZL2007201700567
申请日 : 20070806
授权公告日 : 20080618
终止日期 : 无
2008-06-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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