检查系统、CT装置以及探测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型提供了一种检查系统,该系统包括:CT装置,该CT装置包括:滑环、与滑环连接的射线源、与射线源相对并连接在滑环上的探测装置;以及传送被检查物体的传送装置,其中所述探测装置包括N排探测器,并且相邻两排所述探测器之间具有预定的间隔,其中N为大于1的整数。采用本实用新型的检查系统,实现了CT装置的高速扫描成像,使CT装置和用于获得二维图像的扫描成像装置同时使用成为可能,从而弥补了互相之间的不足。

基本信息
专利标题 :
检查系统、CT装置以及探测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720173872.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-10-30
授权号 :
CN201145672Y
授权日 :
2008-11-05
发明人 :
张丽陈志强胡海峰李元景刘以农孙尚民张文宇邢宇翔
申请人 :
清华大学;同方威视技术股份有限公司
申请人地址 :
100084北京市海淀区清华大学
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
张成新
优先权 :
CN200720173872.3
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01V5/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2017-11-24 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20071030
授权公告日 : 20081105
2008-11-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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