本实用新型一种具有气密环的测试夹座、分类机及测试机，特别指一种用于集成电路组件测试的测试夹座、分类机及测试机。测试夹座包含：一夹座本体；一凸出部，设置于该夹座本体的中央部位，具有多个测试探针以及至少一个真空通孔；一浮动盖板，盖设于该凸出部之上，具有至少一个贯穿的真空吸孔及多个探针孔，其真空吸孔对应凸出部的真空通孔，而这些探针孔容许该凸出部的这些测试探针穿透以连通一待测的集成电路组件的接脚；一气密环；以及一锁合组件，将该浮动盖板限制于该夹座本体；其中，该气密环设置于该凸出部与浮动盖板之间的真空吸孔外侧，其横截面的上半部为可挠曲，且宽度小于其下半部的宽度，且在该上半部与下半部之间是成一转折部。