擦拭采样组件
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种擦拭采样组件，该擦拭采样组件包括：采样薄片；第一保护薄片，所述第一保护薄片在所述采样薄片的第一侧与所述采样薄片重叠且与所述采样薄片连接。使用时手只接触保护纸，不接触采样纸，保证采样纸不会被污染。用该采样组件采样不需其它器材，使用和携带都很方便。
基本信息
专利标题 ：
擦拭采样组件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200720191094.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2007-12-29
授权号 ：
CN201181263Y
授权日 ：
2009-01-14
发明人 ：
彭华刘建华张阳天张仲夏陈伟
申请人 ：
同方威视技术股份有限公司
申请人地址 ：
100084北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
张成新
优先权 ：
CN200720191094.0
主分类号 ：
G01N1/04
IPC分类号 ：
G01N1/04
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/04
固体的，如采用切割
法律状态
2013-02-27 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101402333313
IPC(主分类) : G01N 1/04
专利号 : ZL2007201910940
申请日 : 20071229
授权公告日 : 20090114
终止日期 : 20111229
号牌文件序号 : 101402333313
IPC(主分类) : G01N 1/04
专利号 : ZL2007201910940
申请日 : 20071229
授权公告日 : 20090114
终止日期 : 20111229
2009-01-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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