微流体温度场测量装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种微流体温度场测量装置,包括光源,其特点是还包括起偏器、聚光镜、半透半反射棱镜、偏振分光棱镜、物镜、四分之一波片、检偏器和CCD,光源射出的光束通过起偏器变成偏振光,再经过聚光镜会聚成平行光,该光线经过半透半反射棱镜,反射至偏振分光棱镜后被剪切成两束光;这两束光通过物镜射到微流体芯片上,再按照原方向反射,通过物镜、偏振分光棱镜、半透半反射棱镜、四分之一波片、检偏器,最终成像在CCD靶面上。由于采用共光路光学系统,消除了外界因素对光路的干扰,减少了测量误差。

基本信息
专利标题 :
微流体温度场测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720311257.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-12-14
授权号 :
CN201141832Y
授权日 :
2008-10-29
发明人 :
黎永前张维吕湘连唐虹
申请人 :
西北工业大学
申请人地址 :
710072陕西省西安市友谊西路127号
代理机构 :
西北工业大学专利中心
代理人 :
黄毅新
优先权 :
CN200720311257.4
主分类号 :
G01N21/00
IPC分类号 :
G01N21/00  G01K11/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
法律状态
2013-02-20 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101396122384
IPC(主分类) : G01N 21/00
专利号 : ZL2007203112574
申请日 : 20071214
授权公告日 : 20081029
终止日期 : 20111214
2008-10-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN201141832Y.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332