一种双路激光纳米粒子检测仪
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种双路激光纳米粒子检测仪,安装在支架上的激光发生器射出的激光经过光散修正镜过滤后,经过扩束镜实现光直径的扩束,扩束后的激光穿过存放被测粒子的测试视窗,经过等能分光棱镜分为两路光信号,一路射入第一传感接收器,另一路经过变焦镜变焦后射入第二传感接收器,激光扩束镜、测试视窗、等能分光棱镜可滑动的安装在同一直线方向上的自动定心线性轨道上。检测仪对两路被测粒子信号进行检测,并通过变焦镜进行变焦,由于变焦镜的光传输方向与自动定心线性轨道垂直,可减少检测仪的体积及长度,结构紧凑、携带方便;检测后的数据信号通过计算机可实现两路信号的对比,提高检测准确度。

基本信息
专利标题 :
一种双路激光纳米粒子检测仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820004876.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-03-17
授权号 :
CN201177593Y
授权日 :
2009-01-07
发明人 :
孟繁有
申请人 :
孟繁有
申请人地址 :
130012吉林省长春市朝阳区前进大街靖宇路副39号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
孙长龙
优先权 :
CN200820004876.3
主分类号 :
G01N15/00
IPC分类号 :
G01N15/00  G01N21/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N15/00
测试颗粒的特性;测试多孔材料的渗透性,孔隙体积或者孔隙表面积
法律状态
2013-05-08 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101450326170
IPC(主分类) : G01N 15/00
专利号 : ZL2008200048763
申请日 : 20080317
授权公告日 : 20090107
终止日期 : 20120317
2009-01-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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