一种物料成分测量装置，包括壳体1，光源2，滤光装置3、角镜4、反射镜5以及探测器6；壳体1内设置有支架7，所述壳体1包括入射口8和出射口9，角镜4和反射镜5分别通过第一镜座10和第二镜座11固定于支架7上，滤光装置3位于光源光路上，并位于入射口8和角镜4之间，光源光路通过入射口8射入经过角镜4反射后，由出射口9射出，光源2通过光源座14固定散热光源壳体13上；支架7上还设置有半导体制冷器件15，半导体制冷器件15紧贴壳体1。本实用新型解决了背景技术中探测器工作微环境温度高，制冷效果差，测量精度低的技术问题。具有散热性好、结构简单、安装调试方便、不受测量距离变化的影响的优点。