激光经纬仪测量用反光膜装置

专利权的终止

摘要

本实用新型公开了一种激光经纬仪测量用反光膜装置，其特征在于采用下列结构：(1)方形或矩形磁块或磁片表面贴有反光膜；或者(2)直角形磁块的两内侧表面分别贴有反光膜。本实用新型把反光薄膜粘贴固定在经过精密加工的磁性体上，在测量时把磁性体直接吸附在被测大型设备的机架上，可很好的保证测量精度，操作非常方便，效率较高，节省人力。

基本信息

专利标题：

激光经纬仪测量用反光膜装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820033956.1

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-03-27

授权号：

CN201191182Y

授权日：

2009-02-04

发明人：

李翔黄贞益李长宏吴胜程丙贵王道远李黎明

申请人：

南京钢铁股份有限公司;安徽工业大学

申请人地址：

220035江苏省南京市大厂卸甲甸

代理机构：

安徽合肥华信知识产权代理有限公司

代理人：

余成俊

优先权：

CN200820033956.1

主分类号：

G01C1/02

IPC分类号：

G01C1/02

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01C

测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学

G01C1/00

测量角度

G01C1/02

经纬仪

法律状态

2015-05-13 ：

专利权的终止

未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101609855290
IPC(主分类) : G01C 1/02
专利号 : ZL2008200339561
申请日 : 20080327
授权公告日 : 20090204
终止日期 : 20140327

2009-02-04 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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