测试台晶圆吸盘装置
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种晶圆的测试设备,具体地说是一种通过负压吸附的方式对晶圆在测试时实现固定的测试台晶圆吸盘装置。按照本实用新型提供的技术方案,在负压吸盘与隔热盘之间设置有加热器,在负压吸盘上表面设有若干负压气槽,在负压吸盘内设有与负压气槽连通的负压气孔,在负压吸盘上设有负压气管接头,所述的负压气管接头与负压气孔连通,在负压吸盘上设有贯穿负压吸盘、加热器与隔热盘的卸料孔。本实用新型在使用时固定与卸下晶圆均很方便,可以大大缩短测试时间,提高测试效率,并且有效可以降低测试成本。

基本信息
专利标题 :
测试台晶圆吸盘装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820035163.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-04-14
授权号 :
CN201196654Y
授权日 :
2009-02-18
发明人 :
董晓清孙盘泉戴京东陈仲宇
申请人 :
无锡市易控系统工程有限公司
申请人地址 :
214028江苏省无锡市新区科技创业园4区2楼200号
代理机构 :
无锡市大为专利商标事务所
代理人 :
曹祖良
优先权 :
CN200820035163.3
主分类号 :
G01R1/02
IPC分类号 :
G01R1/02  G01R31/26  H01L21/66  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2014-06-11 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101582732575
IPC(主分类) : G01R 1/02
专利号 : ZL2008200351633
申请日 : 20080414
授权公告日 : 20090218
终止日期 : 20130414
2009-02-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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