双光束在线实时测量光学薄膜应力的装置
专利权的终止
摘要
一种双光束在线实时测量光学薄膜应力的装置,该装置包括搭建在镀膜机真空室外的半导体激光器、双光束分束准直器、晶控仪、位敏光电探测器、A/D采集卡和计算机,以及安装在真空室内的第三反射镜,晶控探头。半导体激光光束经过双光束分束准直器分成两束平行光,通过镀膜机观察窗口进入镀膜室,调整入射光照射到待测基片上,两束反射光经反射镜调整方向后由观察窗口出来,被位敏光电探测器接收,计算机实时采集位敏光电探测器信号和晶控仪关于薄膜厚度和速率的信息,进行数据处理,即时显示光学薄膜应力的实时变化信息。本实用新型具有结构简单、操作方便、兼容和抗干扰能力强的特点,可以在线获得光学薄膜应力的信息。
基本信息
专利标题 :
双光束在线实时测量光学薄膜应力的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820056374.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-03-19
授权号 :
CN201173895Y
授权日 :
2008-12-31
发明人 :
朱冠超方明申雁鸣易葵
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
201800上海市800-211邮政信箱
代理机构 :
上海新天专利代理有限公司
代理人 :
张泽纯
优先权 :
CN200820056374.5
主分类号 :
G01N21/17
IPC分类号 :
G01N21/17 G01B11/06 G06F19/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2010-08-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101004347139
IPC(主分类) : G01N 21/17
专利号 : ZL2008200563745
申请日 : 20080319
授权公告日 : 20081231
号牌文件序号 : 101004347139
IPC(主分类) : G01N 21/17
专利号 : ZL2008200563745
申请日 : 20080319
授权公告日 : 20081231
2008-12-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
CN201173895Y.PDF
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