小型碎样装置

专利权的终止

摘要

本实用新型提供的一种小型碎样装置至少包括研钵和杵，研钵外罩有遮挡盖，遮挡盖顶部设有圆孔，圆孔直径大于杵的直径。遮挡盖上部分呈半球形，遮挡盖下部分内设有环形挡片，环形挡片外环边固定于遮挡盖内侧，环形挡片内环边搁置于研钵上，研钵的直径大于环形挡片的内环直径，小于环形挡片的外环直径；或者在内凹面呈半球面的研钵上直接盖有遮挡盖，两者的结合面呈台阶状。该装置能够粉碎少量样品，且避免粉碎的样品溅出，并能有效地防止污染样品，提高检测精度。

基本信息

专利标题：

小型碎样装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820065604.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-02-02

授权号：

CN201156025Y

授权日：

2008-11-26

发明人：

金成国鲁立强李珍李飞

申请人：

中国地质大学(武汉)

申请人地址：

430074湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号

代理机构：

武汉华旭知识产权事务所

代理人：

刘荣

优先权：

CN200820065604.4

主分类号：

G01N1/28

IPC分类号：

G01N1/28