密度继电器校验仪

专利权的终止

摘要

本实用新型属于密度继电器校验装置的密度继电器校验仪，包括密度继电器校验工作气路系统、密度继电器校验仪的造压系统和单片机控制系统，具有利用先进的微机测控技术，对测试用SF₆气体进行回收，循环使用，不仅避免SF₆气体直接排放产生的环境污染，而且降低了校验成本；具有体积小、重量轻、携带方便且精度高、性能可靠，并且可同时存储多组校验结果，测试数据经过通讯端口能上传计算机，并具有断电数据保护功能，可随时查询和打印储存的校验结果的优点。

基本信息

专利标题：

密度继电器校验仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820071153.5

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-06-23

授权号：

CN201242498Y

授权日：

2009-05-20

发明人：

张灿利宁文远李东辉孔金山

申请人：

郑州赛奥电子有限公司

申请人地址：

450001河南省郑州市高新技术产业开发区碧桃路1号

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200820071153.5

主分类号：

G01M19/00

IPC分类号：

G01M19/00