用于角位移测量的传感器

专利权的终止

摘要

本实用新型提出一种用于角位移测量的传感器，属于位移精密测量装置。传感器具有外圆基体和内圆基体构成绕制线圈的骨架，在外圆基体的内周壁和内圆基体的外周壁上等分开槽；其特征在于一基体上绕有激励线圈，另一基体上绕有感应线圈；感应线圈与激励线圈相对运动；激励线圈连接激励电源，激励信号和感应线圈输出的电信号分别连接到放大电路，再经整形电路整形后，由数字比相器进行相位比较；两路信号的相位差由插补的时钟脉冲个数表示，再换算成角位移值，直接或经微处理器及存储器处理后作角位移数据显示。所述传感器具有结构简单、成本低、分辨力高、抗干扰力强、易于产品化的优点。

基本信息

专利标题：

用于角位移测量的传感器

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820100152.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-09-27

授权号：

CN201311271Y

授权日：

2009-09-16

发明人：

彭东林陈锡侯王先全刘小康张兴红董淳冯济琴郑方燕

申请人：

重庆工学院

申请人地址：

400050重庆市九龙坡区杨家坪兴胜路4号

代理机构：

重庆华科专利事务所

代理人：

康海燕

优先权：

CN200820100152.9

主分类号：

G01B7/30

IPC分类号：

G01B7/30 G01D5/243