专用自动化测试设备的总线系统

专利权的终止

摘要

一种用于半导体器件专用自动化测试设备的总线系统，由相互独立的LVDS信号总线、插件箱数字总线、插件箱模拟总线和插件箱电源总线以及总线驱动器、总线控制器等相关总线部件共同构成。可以在实现总线功能的前提下最大限度地降低总线高频信号对插件箱模块上微弱模拟信号的干扰，从而提高测试系统对微弱模拟信号的检测精度和稳定性，同时满足总线系统中各种插件模块的灵活配置要求。

基本信息

专利标题：

专用自动化测试设备的总线系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820107997.0

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-03-31

授权号：

CN201191313Y

授权日：

2009-02-04

发明人：

孙铣周鹏

申请人：

北京华峰测控技术有限公司

申请人地址：

100070北京市丰台区科技城海鹰路1号院2号楼7层

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200820107997.0

主分类号：

G01R31/26

IPC分类号：

G01R31/26 G06F13/40

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01R

测量电变量；测量磁变量

G01R31/26

•单个半导体器件的测试

法律状态

2018-04-24 ：

专利权的终止

专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20080331
授权公告日 : 20090204

2009-02-04 ：

授权

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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