整体式射线检测装置
专利权的终止
摘要
本实用新型公开了一种整体式射线检测装置,其结构特点在于,检测装置的立柱固定在床身上,立柱与床身成“L”型布局;下滑座装在床身上,下滑座和床身之间安装水平移动装置可使下滑座垂直射线方向移动;上滑座装在下滑座上,上滑座和下滑座之间安装水平移动装置可使上滑座沿射线移动;回转工作台安装在上滑座上,可随上、下滑座一起移动;升降平台装在立柱上,升降平台和立柱之间安装升降装置可使平台沿立柱作垂直上下移动;射线发射装置、探测器固定在升降平台上,可随升降平台一起移动。本实用新型可实现装置整体安装和运输,与现有技术相比,具有安装快捷、适应性好的特点,特别使用于需要经常更换检测地点的检验场合。
基本信息
专利标题 :
整体式射线检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820108687.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-06-06
授权号 :
CN201203585Y
授权日 :
2009-03-04
发明人 :
王甲绪万静夏炎王立晨周正刚
申请人 :
北京固鸿科技有限公司
申请人地址 :
100083北京市海淀区王庄路1号清华同方科技广场B座27层
代理机构 :
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 :
王新华
优先权 :
CN200820108687.0
主分类号 :
G01N23/00
IPC分类号 :
G01N23/00 G01B15/00 G03B42/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2018-06-29 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01N 23/00
申请日 : 20080606
授权公告日 : 20090304
申请日 : 20080606
授权公告日 : 20090304
2009-03-04 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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