开关测试结构
专利权的终止
摘要
本实用新型是关于一种开关测试结构，包含一X轴伺服马达组、一Y轴伺服马达组、一θ轴伺服马达组、一固定元件，其中利用X轴伺服马达组做左右位移的动作、Y轴伺服马达组做上下位移的动作及滑轨行进动作，并由θ轴伺服马达组带动固定元件测试开关，形成一个开关测试结构。
基本信息
专利标题 ：
开关测试结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN200820126720.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2008-06-24
授权号 ：
CN201242588Y
授权日 ：
2009-05-20
发明人 ：
高永良邱明辉
申请人 ：
磊鑫开发科技有限公司
申请人地址 ：
中国台湾桃园市
代理机构 ：
北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
孙皓晨
优先权 ：
CN200820126720.2
主分类号 ：
G01R31/327
IPC分类号 ：
G01R31/327
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/327
•电路断续器、开关或电路断路器的测试
法律状态
2013-08-14 ：
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101506326731
IPC(主分类) : G01R 31/327
专利号 : ZL2008201267202
申请日 : 20080624
授权公告日 : 20090520
终止日期 : 20120624
号牌文件序号 : 101506326731
IPC(主分类) : G01R 31/327
专利号 : ZL2008201267202
申请日 : 20080624
授权公告日 : 20090520
终止日期 : 20120624
2009-05-20 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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