热堆式红外线检测装置
专利权的终止
摘要
对实施了利用非涂敷硅平凸透镜的光学设计的热堆式红外线检测装置,作为外来干扰对策,需要对非涂敷硅平凸透镜表面实施具有红外线透过区域的选择性的蒸镀涂敷。但是,这种实施蒸镀涂敷的工序需要对透镜分别进行蒸镀涂敷,存在工时提高、以及透镜曲面的蒸镀涂敷而受到成品率的影响,在成本方面存在昂贵的问题。本实用新型通过向实施了利用非涂敷硅平凸透镜的光学设计的热堆式红外线检测装置组合具有红外线透过区域的选择性的平面滤光器而构成。而且,并不是在非涂敷硅平凸透镜,而是通过将作为另一部件组合的平面滤光器以薄片状态对整体进行蒸镀涂敷,从而能有效地切割成任意尺寸。
基本信息
专利标题 :
热堆式红外线检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820130582.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-08-06
授权号 :
CN201255664Y
授权日 :
2009-06-10
发明人 :
川口浩二木村亲吾田中基树
申请人 :
日本陶瓷株式会社
申请人地址 :
日本鸟取县
代理机构 :
北京银龙知识产权代理有限公司
代理人 :
张敬强
优先权 :
CN200820130582.5
主分类号 :
G01J5/00
IPC分类号 :
G01J5/00 G01J5/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
法律状态
2014-10-08 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101587371204
IPC(主分类) : G01J 5/00
专利号 : ZL2008201305825
申请日 : 20080806
授权公告日 : 20090610
终止日期 : 20130806
号牌文件序号 : 101587371204
IPC(主分类) : G01J 5/00
专利号 : ZL2008201305825
申请日 : 20080806
授权公告日 : 20090610
终止日期 : 20130806
2009-06-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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