薄型化面板检测装置

专利权的终止

摘要

一种薄型化面板检测装置，包括有一治具台、至少一夹持装置及一测试装置，其中该治具台由一板状座台及一压板，对合形成薄板型台具，而至少一夹持装置；设置于治具台板状座台对应的凹槽内，并具有一夹爪机构及一承载滑座，使待侧面板易于设置或取出于治具台上，另测试装置测试探针及其电性连结的信号输出端子，同样位于该治具台板状座台的凹槽内及一侧边上，使该薄板型台具适于激光检测机具的有限高度空间使用，为一极具有实用性价值的创作。

基本信息

专利标题：

薄型化面板检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820131104.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-07-14

授权号：

CN201222140Y

授权日：

2009-04-15

发明人：

张智镛

申请人：

尹钻科技有限公司

申请人地址：

中国台湾苗栗县

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

汤保平

优先权：

CN200820131104.6

主分类号：

G02F1/13

IPC分类号：

G02F1/13 G01M11/00