全波段CCD痕迹观察增强装置

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摘要

本实用新型所述全波段CCD痕迹取证观察增强装置是在镜头和机壳内对应镜头成像位置中间适当位置设置一个能反射图象的活动全光反射镜或既透又反的透反镜或分光镜，该活动反射镜或既透又反的透反镜或分光镜与在机壳内对应镜头成像位置的全波段象增强器构成光路时，从全波段象增强器后的观察目镜中可观察到清晰的、增强了的痕迹图象；当需要全波段CCD或全波段CMOS采集痕迹图象时，将该活动的全光反射镜做45°角的位置翻转，使镜头、活动的全光反射镜或既透又反的透反镜或分光镜与全波段CCD或全波段CMOS构成光路，以达到痕迹图象的采集目的。如上所述的全波段CCD痕迹取证装置中的活动全光反射镜，可与快门联动；也可用手工或其它方式转换位置。

基本信息

专利标题：

全波段CCD痕迹观察增强装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN200820135324.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2008-08-22

授权号：

CN201378230Y

授权日：

2010-01-06

发明人：

商创达

申请人：

商创达

申请人地址：

100044北京市海淀区首体南路2号东区6-1-202室

代理机构：

代理人：

优先权：

CN200820135324.6

主分类号：

G02B23/12

IPC分类号：

G02B23/12