薄膜样品介电性能测试台
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种薄膜样品介电性能测试台。包括测试台本体,所述测试台本体中央设有样品台,还包括探针和控制探针移动的机械臂,所述机械臂设于测试台本体上,机械臂与探针一端连接,探针另一端在样品台上。本实用新型有三个功能:机械臂可控制探针实现三维移动操作;加热棒的运用能在高温下对薄膜样品进行测试;与显微镜的组合能对尺寸极小的样品测试。

基本信息
专利标题 :
薄膜样品介电性能测试台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820153372.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-09-23
授权号 :
CN201285416Y
授权日 :
2009-08-05
发明人 :
翟继卫宋三年胡丹
申请人 :
同济大学
申请人地址 :
200092上海市杨浦区四平路1239号
代理机构 :
上海光华专利事务所
代理人 :
雷绍宁
优先权 :
CN200820153372.8
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01R1/02  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2012-11-21 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101351117943
IPC(主分类) : G01R 31/00
专利号 : ZL2008201533728
申请日 : 20080923
授权公告日 : 20090805
终止日期 : 20110923
2009-08-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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