太阳光紫外线强度检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种太阳光紫外线强度检测装置,本实用新型采用两个可见光探测器,其中第一可见光探测器的受光表面涂有一层透明均匀的紫外荧光材料薄层,所述紫外荧光材料在紫外线的照射下发射出可见光波段的荧光,第一可见光探测器产生的电信号反映紫外线产生的荧光与可见光的强度之和,第二可见光探测器产生的电信号反映可见光强度,两路电信号经差分放大后得到反映紫外线强度的电信号,该电信号经AD转换后由单片机换算成紫外线强度。本实用新型利用紫外荧光和差分原理,能自动消除本底光的影响,测量紫外线强度的精确度高。

基本信息
专利标题 :
太阳光紫外线强度检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200820202168.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2008-10-17
授权号 :
CN201281630Y
授权日 :
2009-07-29
发明人 :
陈宏林邓晓敏许曼宜李灶华黄佐华郑永驹
申请人 :
华南师范大学
申请人地址 :
510640广东省广州市天河区石牌中山大道西55号
代理机构 :
广州粤高专利代理有限公司
代理人 :
何淑珍
优先权 :
CN200820202168.0
主分类号 :
G01J1/18
IPC分类号 :
G01J1/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J1/00
光度测定法,例如照相的曝光表
G01J1/10
采用与基准光或基准电参数相比较的方法
G01J1/16
采用电辐射检测器
G01J1/18
采用与基准电参数作比较的方法
法律状态
2011-12-21 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101157724187
IPC(主分类) : G01J 1/18
专利号 : ZL2008202021680
申请日 : 20081017
授权公告日 : 20090729
终止日期 : 20101017
2009-07-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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