用于实施循环冗余校验的系统和方法

专利权的终止

摘要

本申请涉及用于实施循环冗余校验的系统和方法。在一个方面，提供循环冗余校验(CRC)校验器，其包含唯一模式检测器、CRC产生器、CRC初始化器和CRC验证器。所述CRC校验器预填充所述CRC产生器以获得唯一模式。当在经由数字传输链路所接收的数据流内接收到所述唯一模式时，所述CRC校验器继续校验CRC而无需对数据进行排队和存储。在另一方面，提供CRC产生器系统，其有意地破坏CRC值以传输系统误差信息。所述CRC产生器系统包含CRC产生器、CRC破坏器、误差检测器和误差值产生器。在一个实例中，所述数字传输链路是MDDI链路。

基本信息

专利标题：

用于实施循环冗余校验的系统和方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN102983937A

申请号：

CN201210449348.X

公开（公告）日：

2013-03-20

申请日：

2005-11-23

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

布赖恩·斯蒂尔乔治·A·威利

申请人：

高通股份有限公司

申请人地址：

美国加利福尼亚州

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司

代理人：

王允方

优先权：

CN201210449348.X

主分类号：

H04L1/00

IPC分类号：

H04L1/00 H04L29/06