用于在激光加工工件时进行受温度补偿的干涉仪式间距测量的装...
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摘要
在用于在激光加工工件(2)时测量工件(2)的反射的工件表面(2a)与反射的基准面(2b)之间的间距(A)的装置(3)中,干涉仪(5)具有分束器(6),该分束器将干涉仪光(7)分到测量臂(9)上作为测量射束(10)并且分到基准臂(11)上作为基准射束(12),并且具有探测器(13),该探测器探测在工件表面(2a)上被反射的测量射束(10)和在基准面(2b)处被反射的基准射束(12),其中,测量臂(9)和基准臂(11)在干涉仪光(7)的相干长度内是等长的。根据本发明设置,测量臂(9)具有测量光纤(14)而基准臂(11)具有基准光纤(15),测量光纤(14)和基准光纤(15)在其整个长度上或在其部分长度上,尤其是在光纤(14,15)长度不同的情况下在较短光纤的整个长度上,平行地在彼此旁延伸并且与彼此处于热接触中,测量臂(9)具有第一表面区域(2a)作为反射的工件表面而基准臂(11)具有工件(2)的第二表面区域(2b)作为反射的基准面,并且
基本信息
专利标题 :
用于在激光加工工件时进行受温度补偿的干涉仪式间距测量的装置和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN106796097A
申请号 :
CN201580045781.9
公开(公告)日 :
2017-05-31
申请日 :
2015-08-19
授权号 :
CN106796097B
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
F·多施T·哈雷尔P·奥格D·普菲茨纳S·凯斯勒
申请人 :
通快激光与系统工程有限公司
申请人地址 :
德国迪琴根
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
侯鸣慧
优先权 :
CN201580045781.9
主分类号 :
G01B9/02
IPC分类号 :
G01B9/02 G01B11/24
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/02
干涉仪
法律状态
2022-06-03 :
授权
2017-09-19 :
实质审查的生效
号牌文件类型代码 : 1604
号牌文件序号 : 101748777525
IPC(主分类) : G01B 9/02
专利申请号 : 2015800457819
申请日 : 20150819
号牌文件序号 : 101748777525
IPC(主分类) : G01B 9/02
专利申请号 : 2015800457819
申请日 : 20150819
2017-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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