天线罩的电性能评估方法及装置

授权

摘要

本发明公开了一种天线罩的电性能评估方法及装置，该天线罩的电性能评估方法包括：获取天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量，并获取天线罩的散射参量信息；获取天线罩的剖分面元参数信息；根据天线口径面的电场、磁场的参数信息或天线表面的电、磁流密度矢量、以及天线罩的散射参量信息和天线罩的剖分面元参数信息，分别计算出天线的远场信息和天线系统的远场信息；根据天线的远场信息和天线系统的远场信息，计算出天线罩的电性能参数信息。通过利用周期性单元叠层的散射参量信息，从而实现对具有微结构叠层的天线罩的电性能评估，并且大幅提高电性能评估中的计算精度及速率。

基本信息

专利标题：

天线罩的电性能评估方法及装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN108268677A

申请号：

CN201611262474.9

公开（公告）日：

2018-07-10

申请日：

2016-12-30

授权号：

CN108268677B

授权日：

2022-04-01

发明人：

不公告发明人

申请人：

深圳光启高等理工研究院

申请人地址：

广东省深圳市南山区高新区中区高新中一道9号软件大厦2楼

代理机构：

北京德恒律治知识产权代理有限公司

代理人：

章社杲

优先权：

CN201611262474.9

主分类号：

G06F17/50

IPC分类号：

G06F17/50