用于放置测试触点和与测试触点接触的方法
授权
摘要

本发明涉及一种用于放置接触元件和与接触元件接触的方法,所述接触元件尤其构成为测试触点装置的测试触点,其中将设有接触元件保持装置的接触头与容纳在接触元件保持装置中的接触元件在馈送轴线的方向上抵靠连接材料沉积部的接触表面放置,以在接触元件和设置在触点载体的接触面上的连接材料沉积部之间构成热传递面,并且为了实现至少部分地熔化连接材料沉积部和为了在接触元件和连接材料沉积部之间建立材料配合的连接,借助于对接触元件加载热能来将热能引入到连接材料沉积部中,其中在加载期间,测量接触元件的温度T,并且根据接触元件的温度T的所求出的温度梯度dT/dt来限定加载的持续时间。

基本信息
专利标题 :
用于放置测试触点和与测试触点接触的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108603898A
申请号 :
CN201680079427.2
公开(公告)日 :
2018-09-28
申请日 :
2016-12-06
授权号 :
CN108603898B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
托尔斯滕·克劳斯
申请人 :
派克泰克封装技术有限公司
申请人地址 :
德国瑙恩
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
张春水
优先权 :
CN201680079427.2
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  G01R1/073  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2022-04-08 :
授权
2018-10-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/067
申请日 : 20161206
2018-09-28 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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