荧光图像分析装置、分析方法及预处理的评价方法
授权
摘要
本发明提供一种能够精确判断试样是阳性还是阴性的荧光图像分析装置、分析方法及预处理的评价方法。预处理单元20进行预处理来制备试样20a，其中预处理包括用荧光色素标记靶位点的步骤在内。荧光图像分析装置10测定试样20a并进行分析。荧光图像分析装置10包括用光照射试样20a的光源121~124、拍摄因光照而从试样20a产生的荧光的拍摄部件154、对拍摄部件154拍摄的荧光图像进行处理的处理部件11。处理部件11就试样20a所含复数个细胞的每一个分别从荧光图像中提取标记靶位点的荧光色素所产生的荧光的光点，根据就复数个细胞中的每一个分别提取的光点生成用来判断试样20a是阳性还是阴性的信息。
基本信息
专利标题 ：
荧光图像分析装置、分析方法及预处理的评价方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108572163A
申请号 ：
CN201710428315.X
公开（公告）日 ：
2018-09-25
申请日 ：
2017-06-08
授权号 ：
CN108572163B
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
山田和宏
申请人 ：
希森美康株式会社
申请人地址 ：
日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号
代理机构 ：
北京市安伦律师事务所
代理人 ：
杨永波
优先权 ：
CN201710428315.X
主分类号 ：
G01N21/64
IPC分类号 ：
G01N21/64
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光；磷光
法律状态
2022-06-03 ：
授权
2019-10-18 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20170608
申请日 : 20170608
2018-09-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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