用于探测动态数据信号的动态测量系统和方法
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摘要

本发明公开了一种包括测量设备(14)的动态测量系统(10)。测量系统(10)具有采集单元(20)以及被配置为将数字信号进行后处理的后处理单元(22)。所述后处理单元(22)具有被配置为以至少两种不同的模式运行的至少一个信号校正滤波器(24)来处理所述数字信号。所述信号校正滤波器(24)至少具有在第一模式中被使用的第一信号校正滤波器设置和在第二模式中被使用的第二信号校正滤波器设置。此外,所述测量系统(10)具有被配置为选择所述第一模式或所述第二模式的切换单元(26),所述切换单元(26)被配置为基于所述数据信号中的事件来动态地运行。所述信号校正滤波器(24)包括时变系数。此外,还公开了一种用于探测动态数据信号的方法。

基本信息
专利标题 :
用于探测动态数据信号的动态测量系统和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108414808A
申请号 :
CN201710959718.7
公开(公告)日 :
2018-08-17
申请日 :
2017-10-16
授权号 :
CN108414808B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
马丁·佩诗珂
申请人 :
罗德施瓦兹两合股份有限公司
申请人地址 :
德国慕尼黑
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
王小衡
优先权 :
CN201710959718.7
主分类号 :
G01R13/00
IPC分类号 :
G01R13/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R13/00
显示电变量或波形的装置
法律状态
2022-05-13 :
授权
2020-02-21 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 13/00
申请日 : 20171016
2018-08-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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