SoC的测试代码烧写方法、IP测试方法及装置

授权

摘要

本文公布了一种SoC芯片的测试代码烧写方法、IP测试方法及装置，所述SoC的测试代码烧写方法，包括：裁剪BOOT代码，将IP测试用例的代码添加到所述BOOT代码，并在所述BOOT代码中将预先设定的测试指令与所述IP测试用例相对应，得到测试代码；编译所述测试代码，生成二进制文件；利用预先编写的测试图形，通过D2S模拟Xmodem协议将所述二进制文件写进所述测试平台的嵌入式多媒体卡EMMC，所述测试图形包含预定义的组合信息，所述组合信息包含预定义的时序信息和电平信息。本申请简化了代码升级的过程，节约了升级测试代码的时间。

基本信息

专利标题：

SoC的测试代码烧写方法、IP测试方法及装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109783340A

申请号：

CN201711103239.1

公开（公告）日：

2019-05-21

申请日：

2017-11-10

授权号：

CN109783340B

授权日：

2022-04-01

发明人：

鲁帅李光耀

申请人：

深圳市中兴微电子技术有限公司

申请人地址：

广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园

代理机构：

北京安信方达知识产权代理有限公司

代理人：

孙敬霞

优先权：

CN201711103239.1

主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06F11/36 G06F15/78