锥形射束计算机断层摄影投影值提供系统和方法
授权
摘要
本发明涉及一种投影值确定设备(14)，所述投影值确定设备适于基于由已经被锥形射束(4)的X射线穿过的探测元件的三维布置的探测元件生成的探测值而不是基于由未被所述X射线穿过的探测元件生成的探测值来确定针对所述X射线的投影值。因此，所述投影值确定设备并不基于由未被各自的X射线穿过的探测元件生成的探测值来确定针对各自的X射线的投影值。具体地，同样地，在锥形方向上，仅考虑由已经被所述各自的X射线实际穿过的探测元件已经生成的探测值，以用于生成投影值。这能够引起减少的串扰和具有改善的图像质量的计算机断层摄影图像。
基本信息
专利标题 ：
锥形射束计算机断层摄影投影值提供系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN107427272A
申请号 ：
CN201780001069.8
公开（公告）日 ：
2017-12-01
申请日 ：
2017-01-19
授权号 ：
CN107427272B
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
M·格拉斯R·普罗克绍
申请人 ：
皇家飞利浦有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
孟杰雄
优先权 ：
CN201780001069.8
主分类号 ：
A61B6/00
IPC分类号 ：
A61B6/00 A61B6/03
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的
法律状态
2022-06-14 ：
授权
2019-03-01 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 6/00
申请日 : 20170119
申请日 : 20170119
2017-12-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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