中子检测装置的操作状态验证方法
授权
摘要
一种验证中子检测装置的操作状态的方法包含至少部分地将包含中子检测器的中子检测装置围封在具有包括热中子吸收材料的外壁的容器中，以及确定所述中子检测装置的衰减中子计数率。所述方法然后包含从所述容器中移除所述中子检测装置，将所述中子检测装置暴露于源自宇宙射线背景的中子辐射，确定所述中子检测装置的操作中子计数率，确定所述操作中子计数率与所述衰减中子计数率之间的比率，以及如果所述操作中子计数率比所述衰减中子计数率高至少预定量并且所述比率在预定范围内，那么验证所述中子检测装置的操作状态。
基本信息
专利标题 ：
中子检测装置的操作状态验证方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109154673A
申请号 ：
CN201780031692.8
公开（公告）日 ：
2019-01-04
申请日 ：
2017-05-22
授权号 ：
CN109154673B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
M·埃瓦特塞恩科-博霍R·洛
申请人 ：
赛默飞世尔科学测量技术有限公司
申请人地址 ：
德国埃尔兰根
代理机构 ：
上海专利商标事务所有限公司
代理人 ：
陈洁
优先权 ：
CN201780031692.8
主分类号 ：
G01T3/00
IPC分类号 ：
G01T3/00 G01V5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T3/00
中子辐射的测量
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2019-01-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01T 3/00
申请日 : 20170522
申请日 : 20170522
2019-01-04 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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