CT系统参数确定方法及装置
授权
摘要
一种CT系统参数确定方法及装置(1，140)，涉及计算机成像技术领域，包括:控制具有互相垂直的第一平面(A1)和第二平面(B1)的模体(M)，在X射线源(01)和探测器(02)的探测面(Y)之间移动，并获取模体(M)在移动过程中在探测面(Y)上的X射线投影(301)，其中，在模体(M)移动的过程中，第一平面(A1)和第二平面(B1)始终垂直于探测面(Y)；根据获取到的X射线投影确定第一直线(Lu)和第二直线(Lv)(302)；将第一直线(Lu)与第二直线(Lv)的交点(O')确定为X射线源(01)的焦点(S)在探测面(Y)上的垂足坐标(303)，CT系统参数包括垂足坐标。方法解决了模体(M)的制造工艺较复杂的问题，简化了模体(M)的制造工艺，用于确定CT系统参数。
基本信息
专利标题 ：
CT系统参数确定方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110461236A
申请号 ：
CN201780088931.3
公开（公告）日 ：
2019-11-15
申请日 ：
2017-06-27
授权号 ：
CN110461236B
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
闫浩王雯李金升
申请人 ：
深圳市奥沃医学新技术发展有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区北环大道9116号富华科技大厦B座8楼
代理机构 ：
北京三高永信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
谢冬寒
优先权 ：
CN201780088931.3
主分类号 ：
A61B6/03
IPC分类号 ：
A61B6/03 G01B11/03
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61B
诊断；外科；鉴定
A61B6/00
用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的
A61B6/02
依次在不同平面中诊断的仪器；立体放射诊断的
A61B6/03
用电子计算机处理的层析X射线摄影机
法律状态
2022-05-17 ：
授权
2019-12-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61B 6/03
申请日 : 20170627
申请日 : 20170627
2019-11-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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