利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法

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摘要

本发明是利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法。利用空间中的一条直线作为靶标，首先，用锥镜面折反射摄像机从不同的位置拍摄2幅含有一条直线的图像，分别从2幅图像中提取靶标图像边缘点，得到2幅图像的对应特征点。在对应特征点的上，根据反射投影模型获得直线在锥镜面上的投影点，从而确定两幅图像之间的本质矩阵。其次，由本质矩阵性质构造一个目标函数。最后，利用粒子优化算法最小化目标函数，从而得到锥镜面折反射摄像机内参数。

基本信息

专利标题：

利用本质矩阵的性质标定锥镜面折反射摄像机的方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN108346164A

申请号：

CN201810017194.4

公开（公告）日：

2018-07-31

申请日：

2018-01-09

授权号：

CN108346164B

授权日：

2022-05-20

发明人：

赵越杨丰澧汪雪纯

申请人：

云南大学

申请人地址：

云南省昆明市呈贡新区大学城云南大学

代理机构：

代理人：

优先权：

CN201810017194.4

主分类号：

G06T7/80

IPC分类号：

G06T7/80

IPC结构图谱

G部——物理

G06

计算；推算或计数

G06T

一般的图像数据处理或产生

G06T7/10

分割；边缘检测

G06T7/80

通过图像分析确定摄像机内部或外部的参数，例如摄像机校准

法律状态

2022-05-20 ：

授权

2020-11-13 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G06T 7/80
申请日 : 20180109

2018-07-31 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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