用于对被测设备执行微放电测试的测试系统以及用于测试被测设...
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摘要
描述了一种测试系统，其中，所述测试系统被配置为对被测设备执行微放电测试。所述测试系统包括：信号生成单元，其被配置为刺激所述被测设备的输入；接收单元，其被配置为接收并测量所述被测设备的至少一个输出信号，以便获得与微放电发生相关的数据。所述信号生成单元和所述接收单元被控制使得两个单元被同时操作。所述信号生成单元被配置为生成用于刺激所述输入的测试信号，所述测试信号同时包括至少两个载波。此外，描述了一种用于测试被测设备的方法。
基本信息
专利标题 ：
用于对被测设备执行微放电测试的测试系统以及用于测试被测设备的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108375703A
申请号 ：
CN201810072339.0
公开（公告）日 ：
2018-08-07
申请日 ：
2018-01-25
授权号 ：
CN108375703B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
马哈茂德·纳西夫
申请人 ：
罗德施瓦兹两合股份有限公司
申请人地址 ：
德国慕尼黑
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
王小衡
优先权 ：
CN201810072339.0
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2020-01-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20180125
申请日 : 20180125
2018-08-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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