一种残影校正系数自动获得方法
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摘要

本发明提供一种残影校正系数自动获得方法,包括:获取校正模板和待校正图像;读取校正模板并做梯度运算,确定参考物图形的边缘;在参考物图形区域内选取若干像素点作为第一选区,在校正模板的参考物图形区域外选取相同数量的像素点作为第二选区,计算两个选区的区域灰度差值;读取一张待校正图像,计算待校正图像中与校正模板中第一选区及第二选区对应的第一选区及第二选区的区域灰度差值;将待校正图像上两选区灰度均值的差值与校正模板上两选区灰度均值的差值作比值,得到残影校正系数。本发明的残影校正系数自动获得方法利用算法手段计算残影系数,节省人力,提高残影测试的效率,保证计算结果的稳定性,利于后期分析拟合的准确性。

基本信息
专利标题 :
一种残影校正系数自动获得方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108416817A
申请号 :
CN201810101689.5
公开(公告)日 :
2018-08-17
申请日 :
2018-02-01
授权号 :
CN108416817B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
吴鹏
申请人 :
上海奕瑞光电子科技股份有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区瑞庆路590号9幢2层202室
代理机构 :
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 :
余明伟
优先权 :
CN201810101689.5
主分类号 :
G06T11/00
IPC分类号 :
G06T11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T11/00
2D图像的生成
法律状态
2022-04-19 :
授权
2018-09-11 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 11/00
申请日 : 20180201
2018-08-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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