一种基于深度自编码器网络的电路结构可靠性预测方法
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摘要
一种基于深度自编码器网络的电路结构可靠性预测方法，包括以下步骤：步骤1：网表解析及相关量的初始化，步骤2：创建电路的特征集；步骤3：基于基准电路集合采集对应特征集[TS,PF,AP]的数据集[ts,pf,ap]及其标签R所对应的数据r；步骤4：依据数据集[ts,pf,ap,r]的特点与规模，构建面向电路可靠性预测的DAN模型；步骤5：基于所选取的DAN模型，依据新输入的特征数据，实现对电路结构可靠性的快速预测。本发明提供一种兼顾可靠性和计算时空开销的基于深度自编码器网络的电路结构可靠性预测方法。
基本信息
专利标题 ：
一种基于深度自编码器网络的电路结构可靠性预测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN108829908A
申请号 ：
CN201810321633.0
公开（公告）日 ：
2018-11-16
申请日 ：
2018-04-11
授权号 ：
CN108829908B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
肖杰马伟峰施展辉黄玉娇胡海根李伟
申请人 ：
浙江工业大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市下城区潮王路18号浙江工业大学
代理机构 ：
杭州斯可睿专利事务所有限公司
代理人 ：
王利强
优先权 ：
CN201810321633.0
主分类号 ：
G06F17/50
IPC分类号 ：
G06F17/50
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2018-12-11 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 17/50
申请日 : 20180411
申请日 : 20180411
2018-11-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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