分析装置、方法和试剂
授权
摘要
描述了一种用于进行分析的装置、系统、方法、试剂和工具组件以及它们的准备过程。特别地,它们被很好地配置成在多孔板分析形式下进行自动取样、样品准备和分析。例如,它们可以被用于环境监测中对从空气和/或液体中得到的样品中的颗粒进行自动分析。
基本信息
专利标题 :
分析装置、方法和试剂
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN108931509A
申请号 :
CN201810521786.X
公开(公告)日 :
2018-12-04
申请日 :
2006-12-21
授权号 :
CN108931509B
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
C·M·克林顿E·N·格列泽B·杰弗里-科克尔S·科瓦奇S·M·库马尔G·西加尔C·史蒂文斯M·福克
申请人 :
梅索斯卡莱科技公司
申请人地址 :
美国马里兰
代理机构 :
永新专利商标代理有限公司
代理人 :
李隆涛
优先权 :
CN201810521786.X
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64 G01N21/66 G01N33/53 G01N33/58 G01N35/02 G01N35/10
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-04-15 :
授权
2018-12-28 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20061221
申请日 : 20061221
2018-12-04 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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