栽培中作物的生长状态测量装置
授权
摘要
提供一种栽培中作物的生长状态测量装置，相对于处于收获前的生长阶段的栽培中作物，在露天、室内等的栽培现场，能够以非接触、非破坏的方式对植物的营养状态进行连续测量。本发明的栽培中作物的生长状态测量装置，其特征在于，具备：光源(11)、投光控制部(12)、受光部(13)、受光控制部(14)、运算部(15)，植物(1)是处于收获前的生长阶段的栽培中作物，测量部位(1a)、(1b)、(1c)是茎、果柄以及叶柄中的任一种，在运算部(15)中，使用在光源(11)的照射时机由检测光得到的投光时受光信号与照射时机之前或者之后由检测光得到的非投光时受光信号的差值，进行运算处理。
基本信息
专利标题 ：
栽培中作物的生长状态测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109932366A
申请号 ：
CN201811323453.2
公开（公告）日 ：
2019-06-25
申请日 ：
2018-11-08
授权号 ：
CN109932366B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
中村新水原晋长琢哉鹫田治彦
申请人 ：
株式会社有机尼科
申请人地址 ：
日本国京都府
代理机构 ：
上海立群专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨楷
优先权 ：
CN201811323453.2
主分类号 ：
G01N21/84
IPC分类号 ：
G01N21/84
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2019-07-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20181108
申请日 : 20181108
2019-06-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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