本公开是关于一种损坏模式确定方法及装置、电子设备、存储介质，涉及集成电路技术领域，该方法包括：对目标芯片中的目标阵列进行划分得到多个预设图，所述目标芯片中包括多个失效位元；通过深度学习模型对所述多个预设图进行分类，确定各所述预设图的类别；确定目标类别对应的预设图中由所述失效位元组成的潜在损坏模式的组合，并在所述潜在损坏模式的组合满足预设条件时确定所述目标阵列的目标损坏模式。本公开能够减小计算量，减小计算成本，能够快速确定目标损坏模式，进而提高芯片良率。