测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及介质
授权
摘要

本发明公开了一种测试存储系统读写性能的方法,根据预先设置的码流路数,创建对应数量的读取线程数及写入线程数,每一个线程对应一路文件;根据预先设置的存储系统读写参数,确定单次读写操作的最大时延阈值;分别判断每个线程的当前时延是否超过所述最大时延阈值;如果是,则判定所述存储系统的读写性能存在丢帧;如果否,则判定所述存储系统的读写性能不存在丢帧。本申请通过预设的码流路数创建线程数,并根据预设读写参数确定最大时延阈值,用于判断是否存在丢帧,从而实现存储系统的性能测试。此外,本申请还公开了一种测试存储系统读写性能的装置、设备和一种计算机可读存储介质,同样能实现上述技术效果。

基本信息
专利标题 :
测试存储系统读写性能的方法、装置、设备及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109582521A
申请号 :
CN201811504751.1
公开(公告)日 :
2019-04-05
申请日 :
2018-12-10
授权号 :
CN109582521B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
安祥文
申请人 :
浪潮(北京)电子信息产业有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区上地信息路2号2-1号C栋1层
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
罗满
优先权 :
CN201811504751.1
主分类号 :
G06F11/22
IPC分类号 :
G06F11/22  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-04-29 :
授权
2019-04-30 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20181210
2019-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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